粉塵云低著火溫度試驗(yàn)儀測試流程：

　　zui小著火溫度測試在加熱爐中進(jìn)行。加熱爐由一個(gè)豎直的透明石英管組成，管子底部開口。石英管頂端是一個(gè)與水平安置的樣品固定裝置相連的玻璃觀察室。來自儲(chǔ)氣罐的壓縮空氣使粉塵擴(kuò)散到加熱爐和樣品固定裝置內(nèi)，然后到玻璃觀察室和石英管內(nèi)。加熱爐放置在一個(gè)支架上，可以從爐子底部觀察點(diǎn)火（火焰）跡象。測試從500℃開始，如果觀察到點(diǎn)火現(xiàn)象便將溫度以20℃的速率逐步減至300℃。如果依然發(fā)生點(diǎn)火，就將溫度以10℃的速率逐步減至無點(diǎn)火狀態(tài)。

　　粉塵云低著火溫度試驗(yàn)儀測試結(jié)果說明

　　發(fā)生著火時(shí)加熱爐的zui低溫度（爐子溫度高于300℃時(shí)減20℃，等于或低于300℃時(shí)減10℃）作為粉塵云的zui低著火溫度而被記錄下來。試驗(yàn)時(shí)，在加熱爐管下端若有火焰噴出或火焰滯后噴出，則判為著火；若只有火星而沒有火焰，則判為未著火。

　　MIT測試數(shù)據(jù)信息主要用于確定工廠設(shè)備表面溫度是否會(huì)引起擴(kuò)散粉塵自發(fā)著火，是在多塵環(huán)境中選擇適當(dāng)設(shè)備的一項(xiàng)重要標(biāo)準(zhǔn)（MIT；粉塵燃燒；粉塵爆炸測試；粉塵擴(kuò)散；粉塵云zui小點(diǎn)火溫度；粉塵易燃性；BAM爐；Godbert-Greenwald；zui低著火溫度；）。運(yùn)用MIT數(shù)據(jù)時(shí)要求為小規(guī)模測試的不確定因素留有一個(gè)安全限制。與此相關(guān)的另一個(gè)重要參數(shù)是粉塵層（一般假定zui大厚度為5 mm）的LIT值。